Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489985101 - 28 november 2014
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Rajesh Garg
Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

Prijs
€ 104,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 24 sep. - 2 okt.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Rajesh Garg

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.

212 pages, 28 black & white tables, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 28 november 2014
ISBN13 9781489985101
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 212
Afmetingen 155 × 235 × 13 mm   ·   335 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van Rajesh Garg