Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations - Rajesh Garg - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441909305 - 16 november 2009
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Analysis and Design of Resilient VLSI Circuits: Mitigating Soft Errors and Process Variations 2010 edition

Prijs
€ 173,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 16 - 30 okt.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Rajesh Garg
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

This monograph is motivated by the challenges faced in designing reliable VLSI systems in modern VLSI processes. The work presented in this research mo- graph presents several analysis and design techniques with the goal of realizing VLSI circuits, which are radiation and process variation tolerant.


212 pages, 28 black & white tables, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 16 november 2009
ISBN13 9781441909305
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 212
Afmetingen 159 × 238 × 24 mm   ·   508 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever