Alberto Bosio
Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies Alberto Bosio 2010 edition

Name: Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies
Price: 121.99 EUR
Availability: OutOfStock
Author: Alberto Bosio

Prijs

€ 121,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 28 aug. - 11 sep.

Ontvang meldingen over nieuwe releases van Alberto Bosio

Onze klanten zeggen:

Top-vurdering på Google Reviews, baseret på tusinder af anmeldelser.

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving

Topnotering op Trustpilot

Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Hardcover Book

2010 edition

(2009) € 112,49

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies

Alberto Bosio

2010 edition

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.

171 pages, 22 black & white tables, biography

Media	Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven	3 september 2014
ISBN13	9781489983145
Uitgevers	Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's	171
Afmetingen	155 × 235 × 10 mm · 272 g
Taal en grammatica	Engels