Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies - Alberto Bosio - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441909374 - 4 november 2009
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Advanced Test Methods for SRAMs: Effective Solutions for Dynamic Fault Detection in Nanoscaled Technologies 2010 edition

Prijs
€ 115,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 16 - 30 okt.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Alberto Bosio
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Modern electronics depend on nanoscaled technologies that present new challenges in terms of testing and diagnostics. Classical methods for testing memory are designed to handle the so-called "static faults," but these test solutions are not sufficient for faults that are emerging in the latest Very Deep Sub-Micron (VDSM) technologies.


171 pages, 22 black & white tables, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 4 november 2009
ISBN13 9781441909374
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 171
Afmetingen 155 × 235 × 12 mm   ·   439 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever