Image-Based Fractal Description of Microstructures - J.M. Li - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402075070 - 31 juli 2003
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Image-Based Fractal Description of Microstructures 2003 edition

Prijs
€ 97,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 22 - 30 okt.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van J.M. Li
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Fractal analysis has rapidly become an important field in materials science and engineering with broad applications to theoretical analysis and quantitative description of microstructures of materials. Fractal measurement, error analysis and fractal description of cluster growth, thin films and surfaces are emphasized in this book.


272 pages, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 31 juli 2003
ISBN13 9781402075070
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 272
Afmetingen 155 × 235 × 17 mm   ·   616 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever