Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing - Erik Larsson - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781402032073 - 7 november 2005
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing 2005 edition

Prijs
€ 144,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 8 - 16 okt.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Erik Larsson
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.


388 pages, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 7 november 2005
ISBN13 9781402032073
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 388
Afmetingen 156 × 232 × 23 mm   ·   1,09 kg
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever