Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing - Erik Larsson - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441952691 - 2 februari 2011
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Erik Larsson
Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization - Frontiers in Electronic Testing Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2005 edition

Prijs
€ 144,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 1 - 9 okt.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Erik Larsson

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

SOC test design and its optimization is the topic of Introduction to Advanced System-on-Chip Test Design and Optimization. The second part of the book discusses SOC related problems such as system modeling, test conflicts, power consumption, test access mechanism design, test scheduling and defect-oriented scheduling.

388 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 2 februari 2011
Datum oorspronkelijke uitgave 2010
ISBN13 9781441952691
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 388
Afmetingen 150 × 220 × 10 mm   ·   571 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van Erik Larsson