Vertel uw vrienden over dit artikel:
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Adam Foster And Ed. edition
Heb je een profiel? Inloggen
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Adam Foster
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Ook verkrijgbaar als:
Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology
Adam Foster
Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.
282 pages, biography
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 28 juni 2006 |
| ISBN13 | 9780387400907 |
| Uitgevers | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pagina's | 282 |
| Afmetingen | 155 × 235 × 17 mm · 589 g |