Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9780387400907 - 28 juni 2006
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology And Ed. edition


Ontvang een e-mail zodra het artikel beschikbaar is
Heb je een profiel? Inloggen
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Adam Foster
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.


282 pages, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 28 juni 2006
ISBN13 9780387400907
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 282
Afmetingen 155 × 235 × 17 mm   ·   589 g

Meer door Adam Foster

Meer van dezelfde uitgever