Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology - Adam Foster - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781441923066 - 23 november 2010
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Scanning Probe Microscopy: Atomic Scale Engineering by Forces and Currents - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Prijs
€ 144,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 5 - 15 jun.
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Scanning Probe Microscopy provides a comprehensive source of information for researchers, teachers, and graduate students about the rapidly expanding field of scanning probe theory.


282 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 23 november 2010
ISBN13 9781441923066
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 282
Afmetingen 155 × 235 × 16 mm   ·   417 g
Taal en grammatica Engels  

Meer door Adam Foster

Alles tonen

Mere med samme udgiver