Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642445019 - 26 november 2014
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2012 edition

Prijs
€ 144,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 18 - 28 sep.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Hui Xie
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.


344 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 26 november 2014
ISBN13 9783642445019
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 344
Afmetingen 155 × 235 × 19 mm   ·   503 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever