Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics - Hui Xie - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642203282 - 28 september 2011
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Atomic Force Microscopy Based Nanorobotics: Modelling, Simulation, Setup Building and Experiments - Springer Tracts in Advanced Robotics 2011 edition

Prijs
€ 144,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 30 okt. - 9 nov.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Hui Xie
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

The atomic force microscope (AFM) has been successfully used to perform nanorobotic manipulation operations on nanoscale entities such as particles, nanotubes, nanowires, nanocrystals, and DNA since 1990s.


360 pages, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 28 september 2011
ISBN13 9783642203282
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 344
Afmetingen 155 × 235 × 25 mm   ·   612 g
Taal en grammatica Frans  

Meer van dezelfde uitgever