Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Boeken - Springer International Publishing AG - 9783319912035 - 18 juli 2018
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults 1st ed. 2019 edition

Prijs
€ 60,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 7 - 21 aug.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Ireneusz Mrozek
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.


135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 18 juli 2018
ISBN13 9783319912035
Uitgevers Springer International Publishing AG
Pagina's 135
Afmetingen 150 × 220 × 20 mm   ·   454 g
Taal en grammatica Frans  

Meer van dezelfde uitgever