Vertel uw vrienden over dit artikel:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Ireneusz Mrozek 1st ed. 2019 edition
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Ireneusz Mrozek
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.
135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 18 juli 2018 |
| ISBN13 | 9783319912035 |
| Uitgevers | Springer International Publishing AG |
| Pagina's | 135 |
| Afmetingen | 150 × 220 × 20 mm · 454 g |
| Taal en grammatica | Frans |
Meer van dezelfde uitgever
Bekijk alles van Ireneusz Mrozek ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )