Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults - Ireneusz Mrozek - Boeken - Springer Nature Switzerland AG - 9783030081980 - 1 februari 2019
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Ireneusz Mrozek
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition

Ontvang een e-mail zodra het artikel beschikbaar is
Heb je een profiel? Inloggen
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Ireneusz Mrozek

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.

135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 1 februari 2019
ISBN13 9783030081980
Uitgevers Springer Nature Switzerland AG
Pagina's 135
Afmetingen 150 × 220 × 10 mm   ·   454 g
Taal en grammatica Duits  

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van Ireneusz Mrozek ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )