Vertel uw vrienden over dit artikel:
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults Ireneusz Mrozek Softcover reprint of the original 1st ed. 2019 edition
Multi-run Memory Tests for Pattern Sensitive Faults
Ireneusz Mrozek
This book describes efficient techniques for production testing as well as for periodic maintenance testing (specifically in terms of multi-cell faults) in modern semiconductor memory.
135 pages, 50 Tables, color; 34 Illustrations, black and white; X, 135 p. 34 illus.
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 1 februari 2019 |
| ISBN13 | 9783030081980 |
| Uitgevers | Springer Nature Switzerland AG |
| Pagina's | 135 |
| Afmetingen | 150 × 220 × 10 mm · 454 g |
| Taal en grammatica | Duits |
Meer van dezelfde uitgever
Bekijk alles van Ireneusz Mrozek ( bijv. Paperback Book en Hardcover Book )