Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - Boeken - Springer International Publishing AG - 9783031442322 - 7 februari 2024
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation 2024 edition

Prijs
€ 85,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 18 - 28 sep.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Fangzhou Xia
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).


370 pages, 200 Tables, color; 125 Illustrations, color; 13 Illustrations, black and white; XXIV, 370

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 7 februari 2024
ISBN13 9783031442322
Uitgevers Springer International Publishing AG
Pagina's 366
Afmetingen 150 × 220 × 20 mm   ·   823 g
Taal en grammatica Duits  

Meer van dezelfde uitgever