Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation - Fangzhou Xia - Boeken - Springer International Publishing AG - 9783031442353 - 7 februari 2025
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Active Probe Atomic Force Microscopy: A Practical Guide on Precision Instrumentation

Prijs
€ 63,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 31 jul. - 10 aug.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Fangzhou Xia
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

From a perspective of precision instrumentation, this book provides a guided tour to readers on exploring the inner workings of atomic force microscopy (AFM).

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 7 februari 2025
ISBN13 9783031442353
Uitgevers Springer International Publishing AG
Pagina's 366
Afmetingen 150 × 220 × 10 mm   ·   664 g
Taal en grammatica Duits  

Meer van dezelfde uitgever