Bias Temperature Instability for Devices and Circuits - - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781493955299 - 1 oktober 2016
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Bias Temperature Instability for Devices and Circuits Softcover reprint of the original 1st ed. 2014 edition

Ontvang een e-mail zodra het artikel beschikbaar is
Heb je een profiel? Inloggen

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Readers will benefit from state-of-the art coverage of research in topics such as time dependent defect spectroscopy, anomalous defect behavior, stochastic modeling with additional metastable states, multiphonon theory, compact modeling with RC ladders and implications on device reliability and lifetime.

821 pages, 283 black & white illustrations, 318 colour illustrations, 22 black & white tables, biogr

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 1 oktober 2016
ISBN13 9781493955299
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 810
Afmetingen 150 × 220 × 10 mm   ·   1,37 kg
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Grasser, Tibor

Meer van dezelfde uitgever