High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability - Stephan Eggersgluss - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489988478 - 20 oktober 2014
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

High Quality Test Pattern Generation and Boolean Satisfiability 2012 edition

Prijs
€ 97,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 17 - 25 jun.
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

This book provides an overview of automatic test pattern generation (ATPG) and introduces novel techniques to complement classical ATPG, based on Boolean Satisfiability (SAT). It presents a fast and highly fault efficient SAT-based ATPG framework.


193 pages, 52 black & white tables, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 20 oktober 2014
ISBN13 9781489988478
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 193
Afmetingen 155 × 235 × 11 mm   ·   303 g
Taal en grammatica Engels  

Mere med samme udgiver