Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Ruijing Shen - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489987877 - 13 april 2014
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs 2012 edition


Ontvang een e-mail zodra het artikel beschikbaar is
Heb je een profiel? Inloggen
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Ruijing Shen
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.


306 pages, 61 black & white tables, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 13 april 2014
ISBN13 9781489987877
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 306
Afmetingen 155 × 235 × 18 mm   ·   511 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever