Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs - Ruijing Shen - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461407874 - 18 maart 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Statistical Performance Analysis and Modeling Techniques for Nanometer VLSI Designs 2012 edition

Prijs
€ 95,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 17 - 25 sep.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Ruijing Shen
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

This book covers statistical modeling and analysis of VLSI systems with a focus on interconnects, on-chip power grids and clock networks and analog/mixed-signal circuits. It offers an analysis of each algorithm with applications in real circuit design.


336 pages, 61 black & white tables, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 18 maart 2012
ISBN13 9781461407874
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 306
Afmetingen 155 × 235 × 19 mm   ·   644 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever