Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781489915245 - 4 juni 2013
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices Softcover reprint of the original 1st ed. 1993 edition

Prijs
€ 153,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 11 - 19 jun.

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

480 pages, black & white illustrations

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 4 juni 2013
ISBN13 9781489915245
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 462
Afmetingen 178 × 254 × 24 mm   ·   825 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Thong, John T.L.

Mere med samme udgiver

Bekijk alles van John T L Thong ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )