Electron Beam Testing Technology - Microdevices - John T L Thong - Boeken - Springer Science+Business Media - 9780306443602 - 31 juli 1993
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

John T L Thong
Electron Beam Testing Technology - Microdevices 1993 edition

Prijs
€ 167,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 9 - 23 sep.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van John T L Thong

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Although exploratory and developmental activity in electron beam testing (EBT) 25 years, it was not had already been in existence in research laboratories for over until the beginning of the 1980s that it was taken up seriously as a technique for integrated circuit (IC) testing.

Marc Notes: Includes bibliographical references and index. Table of Contents: Background to Electron Beam Testing; W. C. Nixon. Introduction; J. T. L. Thong. Principles and Applications; J. T. L. Thong. Essential Electron Optics; A. R. Dinnis. Electron Beam Interaction with Specimen; K. Ura. Electron Spectrometers and Voltage Measurements; L. Dubbeldam. High Speed Techniques; J. T. L. Thong. Picosecond Photoemission Probing; H. Beha, R. Clauberg. Signal and Image Processing; F. M. Boland, E. R. Lynch. System Integration; M. Battu, et al. Practical Considerations in Electron Beam Testing; T. J. Aton. Industrial Case Studies; D. W. Ranasinghe, et al. Index."

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 31 juli 1993
ISBN13 9780306443602
Uitgevers Springer Science+Business Media
Pagina's 462
Afmetingen 178 × 254 × 32 mm   ·   1,05 kg
Uitgever Thong, John T.L.

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van John T L Thong