Vertel uw vrienden over dit artikel:
Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Samuel H Cohen Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition
Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2
Samuel H Cohen
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994
259 pages, 250 black & white illustrations, biography
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 4 juni 2013 |
| ISBN13 | 9781475793277 |
| Uitgevers | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pagina's | 250 |
| Afmetingen | 178 × 254 × 14 mm · 462 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | Cohen, Samuel H. |
| Uitgever | Lightbody, Marcia L. |
Meer door Samuel H Cohen
Alles tonenMeer uit deze serie
Meer van dezelfde uitgever
Bekijk alles van Samuel H Cohen ( bijv. Paperback Book en Hardcover Book )