Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 - Samuel H Cohen - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781475793277 - 4 juni 2013
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Softcover reprint of the original 1st ed. 1997 edition

Prijs
€ 144,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 10 - 18 sep.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Samuel H Cohen
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994


259 pages, 250 black & white illustrations, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 4 juni 2013
ISBN13 9781475793277
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 250
Afmetingen 178 × 254 × 14 mm   ·   462 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Cohen, Samuel H.
Uitgever Lightbody, Marcia L.

Meer door Samuel H Cohen

Alles tonen

Meer uit deze serie

Meer van dezelfde uitgever