Vertel uw vrienden over dit artikel:
Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2 Samuel H Cohen 1997 edition
Atomic Force Microscopy / Scanning Tunneling Microscopy 2
Samuel H Cohen
Proceedings of the Second Symposium held in Natick, Massachusetts, June7-9, 1994
250 pages, biography
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 30 april 1997 |
| ISBN13 | 9780306455964 |
| Uitgevers | Springer Science+Business Media |
| Pagina's | 250 |
| Afmetingen | 178 × 254 × 16 mm · 680 g |
| Uitgever | Cohen, Samuel H. |
| Uitgever | Lightbody, Marcia L. |
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld