Vertel uw vrienden over dit artikel:
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis Joseph Goldstein 3rd ed. 2003. Softcover reprint of the original 3r edition
Scanning Electron Microscopy and X Ray Microanalysis
Joseph Goldstein
This text provides students as well as practitioners with a comprehensive introduction to the field of scanning electron microscopy (SEM) and X-ray microanalysis. Topics discussed include user-controlled functions of scanning electron microscopes and x-ray spectrometers and the use of x-rays for qualitative and quantitative analysis.
709 pages, biography
| Media | Boeken Book |
| Vrijgegeven | 31 mei 2013 |
| ISBN13 | 9781461349693 |
| Uitgevers | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pagina's | 689 |
| Afmetingen | 255 × 182 × 43 mm · 1,22 kg |
| Taal en grammatica | Engels |
Meer door Joseph Goldstein
Alles tonenAnderen hebben ook gekocht
Bekijk alles van Joseph Goldstein ( bijv. Paperback Book , Hardcover Book , Book , CD en Orakelkaarten/tarotkaarten )
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld