Ullrich Pietsch
High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics Ullrich Pietsch 2nd ed. 2004. Softcover reprint of the original 2n edition

Name: High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics
Price: 103.49 EUR
Availability: OutOfStock
Author: Ullrich Pietsch

Prijs

€ 103,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 28 aug. - 11 sep.

Ontvang meldingen over nieuwe releases van Ullrich Pietsch

Onze klanten zeggen:

Top-vurdering på Google Reviews, baseret på tusinder af anmeldelser.

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving

Topnotering op Trustpilot

Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Hardcover Book

2nd ed. 2004 edition

(2004) € 140,99

High-Resolution X-Ray Scattering: From Thin Films to Lateral Nanostructures - Advanced Texts in Physics

Ullrich Pietsch

2nd ed. 2004. Softcover reprint of the original 2n edition

During the last 20 years interest in high-resolution x-ray diffractometry and reflectivity has grown as a result of the development of the semiconductor industry and the increasing interest in material research of thin layers of magnetic, organic, and other materials.

408 pages, 389 black & white illustrations, biography

Media	Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven	12 december 2011
ISBN13	9781441923073
Uitgevers	Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's	408
Afmetingen	155 × 235 × 22 mm · 594 g
Taal en grammatica	Engels