Vertel uw vrienden over dit artikel:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis Patrick Echlin 1986 edition
Heb je een profiel? Inloggen
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Ook verkrijgbaar als:
Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis
Patrick Echlin
This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.
454 pages, biography
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 31 maart 1986 |
| ISBN13 | 9780306421402 |
| Uitgevers | Springer Science+Business Media |
| Pagina's | 454 |
| Afmetingen | 156 × 234 × 27 mm · 721 g |
| Taal en grammatica | Engels |
Meer door Patrick Echlin
Alles tonenMere med samme udgiver
Bekijk alles van Patrick Echlin ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )