Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis - Patrick Echlin - Boeken - Springer Science+Business Media - 9780306421402 - 31 maart 1986
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Advanced Scanning Electron Microscopy and X-Ray Microanalysis 1986 edition


Ontvang een e-mail zodra het artikel beschikbaar is
Heb je een profiel? Inloggen
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

This book has its origins in the intensive short courses on scanning elec tron microscopy and x-ray microanalysis which have been taught annually at Lehigh University since 1972.


454 pages, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 31 maart 1986
ISBN13 9780306421402
Uitgevers Springer Science+Business Media
Pagina's 454
Afmetingen 156 × 234 × 27 mm   ·   721 g
Taal en grammatica Engels  

Meer door Patrick Echlin

Alles tonen

Mere med samme udgiver