Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - SpringerBriefs in Reliability - Cher Ming Tan - Boeken - Springer Verlag, Singapore - 9789814451208 - 4 mei 2013
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Cher Ming Tan
Electromigration Modeling at Circuit Layout Level - SpringerBriefs in Reliability 2013 edition

Prijs
₺ 2.517,50

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 25 dec. - 2 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Integrated circuit (IC) reliability is of increasing concern in present-day IC technology where the interconnect failures significantly increases the failure rate for ICs with decreasing interconnect dimension and increasing number of interconnect levels.

120 pages, 73 black & white illustrations, 2 colour illustrations, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 4 mei 2013
ISBN13 9789814451208
Uitgevers Springer Verlag, Singapore
Pagina's 103
Afmetingen 155 × 235 × 6 mm   ·   1,88 kg
Alles tonen

Meer door Cher Ming Tan

Bekijk alles van Cher Ming Tan ( bijv. Hardcover Book en Paperback Book )