CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology - Jiann-Shiun Yuan - Boeken - Springer Verlag, Singapore - 9789811008825 - 21 april 2016
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Jiann-Shiun Yuan
CMOS RF Circuit Design for Reliability and Variability - SpringerBriefs in Applied Sciences and Technology 1st ed. 2016 edition

Prijs
€ 50,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 7 - 15 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

The subject of this book is CMOS RF circuit design for reliability. The device reliability and process variation issues on RF transmitter and receiver circuits will be particular interest to the readers in the field of semiconductor devices and circuits.

106 pages, 101 black & white illustrations, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 21 april 2016
ISBN13 9789811008825
Uitgevers Springer Verlag, Singapore
Pagina's 106
Afmetingen 155 × 235 × 6 mm   ·   1,83 kg

Meer door Jiann-Shiun Yuan

Alles tonen

Bekijk alles van Jiann-Shiun Yuan ( bijv. Book en Paperback Book )