Recent Interferometry Applications in Topography and Astronomy - Ivan Padron - Boeken - In Tech - 9789535104049 - 21 maart 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Recent Interferometry Applications in Topography and Astronomy

Prijs
€ 106,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 24 sep. - 2 okt.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Ivan Padron
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

This book provides a current overview of the theoretical and experimental aspects of some interferometry techniques applied to Topography and Astronomy. The first two chapters comprise interferometry techniques used for precise measurement of surface topography in engineering applications; while chapters three through eight are dedicated to interferometry applications related to Earth's topography. The last chapter is an application of interferometry in Astronomy, directed specifically to detection of planets outside our solar system. Each chapter offers an opportunity to expand the knowledge about interferometry techniques and encourage researchers in development of new interferometry applications.


234 pages

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 21 maart 2012
ISBN13 9789535104049
Uitgevers In Tech
Pagina's 232
Afmetingen 180 × 260 × 14 mm   ·   571 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Padron, Ivan

Meer door Ivan Padron

Alles tonen

Meer van dezelfde uitgever