Vertel uw vrienden over dit artikel:
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Andrej Rumiantsev
Prijs
€ 125,49
Besteld in een afgelegen magazijn
Verwachte levering 10 - 22 jul.
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
On-Wafer Calibration Techniques Enabling Accurate Characterization of High-Performance Silicon Devices at the mm-Wave Range and Beyond
Andrej Rumiantsev
This book presents solutions for accurate mm-wave characterization of advanced semiconductor devices. It guides through the process of development, implementation and verification of the in-situ calibration methods optimized for high-performance silicon technologies.
250 pages
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 31 juli 2019 |
| ISBN13 | 9788770221122 |
| Uitgevers | River Publishers |
| Pagina's | 278 |
| Afmetingen | 526 g |
Bekijk alles van Andrej Rumiantsev ( bijv. Hardcover Book )