Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics - Souvik Mahapatra - Boeken - Springer, India, Private Ltd - 9788132225072 - 14 augustus 2015
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Souvik Mahapatra
Fundamentals of Bias Temperature Instability in MOS Transistors: Characterization Methods, Process and Materials Impact, DC and AC Modeling - Springer Series in Advanced Microelectronics 1st ed. 2015 edition

Prijs
€ 97,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 8 - 16 jan. 2026
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

269 pages, 133 black & white illustrations, 68 colour illustrations, 17 black & white tables, biogra

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 14 augustus 2015
ISBN13 9788132225072
Uitgevers Springer, India, Private Ltd
Pagina's 269
Afmetingen 155 × 235 × 20 mm   ·   689 g
Uitgever Mahapatra, Souvik

Bekijk alles van Souvik Mahapatra ( bijv. Hardcover Book )