Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - NanoScience and Technology - Bert Voigtlander - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783662505571 - 13 oktober 2016
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Scanning Probe Microscopy: Atomic Force Microscopy and Scanning Tunneling Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2015 edition

Prijs
€ 191,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 3 - 11 nov.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Bert Voigtlander
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

This book explains the operating principles of atomic force microscopy and scanning tunneling microscopy. The aim of this book is to enable the reader to operate a scanning probe microscope successfully and understand the data obtained with the microscope.


397 pages, 41 black & white illustrations, 148 colour illustrations, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 13 oktober 2016
ISBN13 9783662505571
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 382
Afmetingen 155 × 235 × 21 mm   ·   557 g
Taal en grammatica Duits  

Meer door Bert Voigtlander

Meer van dezelfde uitgever