Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences - J. Bourgoin - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642818349 - 8 december 2011
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Point Defects in Semiconductors II: Experimental Aspects - Springer Series in Solid-State Sciences Softcover reprint of the original 1st ed. 1983 edition

Prijs
€ 97,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 22 - 30 okt.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van J. Bourgoin
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

In introductory solid-state physics texts we are introduced to the concept of a perfect crystalline solid with every atom in its proper place.


295 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 8 december 2011
ISBN13 9783642818349
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 295
Afmetingen 155 × 235 × 17 mm   ·   449 g
Taal en grammatica Engels  

Meer door J. Bourgoin

Meer van dezelfde uitgever