Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology - S Morita - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642627729 - 23 oktober 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

S Morita
Noncontact Atomic Force Microscopy - NanoScience and Technology Softcover reprint of the original 1st ed. 2002 edition

Prijs
€ 191,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 15 - 23 sep.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van S Morita

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Since 1995, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. Based on nanomechanical methods, the NC-AFM detects the weak attractive force between the tip of a cantilever and a sample surface. it can measure atomic force interactions, i.e. it can be used in so-called atomic force spectroscopy (AFS);

458 pages, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 23 oktober 2012
ISBN13 9783642627729
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 440
Afmetingen 155 × 235 × 24 mm   ·   639 g
Taal en grammatica Duits  
Uitgever Meyer, E.
Uitgever Morita, S.
Uitgever Wiesendanger, Roland

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van S Morita