Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology - Seizo Morita - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642260704 - 14 maart 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Noncontact Atomic Force Microscopy: Volume 2 - NanoScience and Technology 2009 edition

Prijs
€ 210,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 23 okt. - 2 nov.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Seizo Morita
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Since the original publication of Noncontact Atomic Force Microscopy in 2002, the noncontact atomic force microscope (NC-AFM) has achieved remarkable progress. This second treatment deals with the following outstanding recent results obtained with atomic resolution since then: force spectroscopy and mapping with atomic resolution;


419 pages, 28 black & white illustrations, 77 colour illustrations, 7 black & white tables, biograph

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 14 maart 2012
ISBN13 9783642260704
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 401
Afmetingen 234 × 157 × 31 mm   ·   585 g
Taal en grammatica Frans  
Uitgever Giessibl, Franz J.
Uitgever Morita, Seizo
Uitgever Wiesendanger, Roland

Meer door Seizo Morita

Meer van dezelfde uitgever