Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology - - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642093418 - 30 november 2010
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Applied Scanning Probe Methods IX: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Prijs
€ 104,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 25 jun. - 3 jul.

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

The volumes VIII, IX and X examine the physical and technical foundation for recent progress in applied scanning probe techniques. The field is progressing so fast that there is a need for a set of volumes every 12 to 18 months to capture latest developments. These volumes constitute a timely and comprehensive overview of SPM applications.

446 pages, 25 black & white tables, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 30 november 2010
ISBN13 9783642093418
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 387
Afmetingen 155 × 235 × 23 mm   ·   674 g
Taal en grammatica Duits  
Uitgever Bhushan, Bharat
Uitgever Fuchs, Harald
Uitgever Tomitori, Masahiko

Mere med samme udgiver