Synthetic Polymeric Membranes: Characterization by Atomic Force Microscopy - Springer Laboratory - K. C. Khulbe - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642093272 - 22 november 2010
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

K. C. Khulbe
Synthetic Polymeric Membranes: Characterization by Atomic Force Microscopy - Springer Laboratory Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2008 edition

Prijs
€ 106,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 27 nov. - 7 dec.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van K. C. Khulbe

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

Researchers in polymeric membranes as well as R&D professionals will find this work an essential addition to the literature. It concentrates on the method recently developed to study the surfaces of synthetic polymeric membranes using an Atomic Force Microscope (AFM), which is fast becoming a very important tool.

198 pages, 146 black & white illustrations, 51 black & white tables, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 22 november 2010
ISBN13 9783642093272
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 198
Afmetingen 155 × 235 × 11 mm   ·   308 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van K. C. Khulbe