Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology -  - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783642065965 - 12 februari 2010
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Applied Scanning Probe Methods III: Characterization - NanoScience and Technology Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2006 edition

Prijs
€ 104,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 30 jun. - 8 jul.
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.


378 pages, 268 black & white illustrations, 2 colour illustrations, 3 black & white tables, biograph

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 12 februari 2010
ISBN13 9783642065965
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 378
Afmetingen 155 × 235 × 21 mm   ·   639 g
Taal en grammatica Duits  
Uitgever Bhushan, Bharat
Uitgever Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver