Vertel uw vrienden over dit artikel:
Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology Donna R. Kemp 1st edition
Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology
Donna R. Kemp
Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.
338 pages, 7 black & white tables, biography
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 18 oktober 2006 |
| ISBN13 | 9783540373186 |
| Uitgevers | Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm |
| Pagina's | 338 |
| Afmetingen | 155 × 235 × 19 mm · 648 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | Bhushan, Bharat |
| Uitgever | Fuchs, Harald |
| Uitgever | Kawata, Satoshi |