Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology - Donna R. Kemp - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540373186 - 18 oktober 2006
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Applied Scanning Probe Methods: Characterization - Nanoscience and Technology 1st edition

Prijs
€ 140,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 1 - 9 okt.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Donna R. Kemp
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Presents 10 chapters on a variety of techniques and refinements of Scanning Probe Methods (SPM) applications.


338 pages, 7 black & white tables, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 18 oktober 2006
ISBN13 9783540373186
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 338
Afmetingen 155 × 235 × 19 mm   ·   648 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Bhushan, Bharat
Uitgever Fuchs, Harald
Uitgever Kawata, Satoshi

Meer door Donna R. Kemp

Alles tonen

Meer van dezelfde uitgever