Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology - - Boeken - Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm - 9783540262428 - 21 februari 2006
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Applied Scanning Probe Methods II: Scanning Probe Microscopy Techniques - NanoScience and Technology

Prijs
€ 140,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 16 - 24 jun.

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

These were quickly followed by the M- netic Force Microscope, MFM, and the Electrostatic Force Microscope, EFM. There are signi?cant differences between the Scanning Probe Microscopes or SPM, and others such as the Scanning Electron Microscope or SEM.

464 pages, 263 black & white illustrations, 7 colour illustrations, 17 black & white tables

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 21 februari 2006
Datum oorspronkelijke uitgave 2005
ISBN13 9783540262428
Uitgevers Springer-Verlag Berlin and Heidelberg Gm
Pagina's 420
Afmetingen 155 × 235 × 22 mm   ·   771 g
Taal en grammatica Duits  
Uitgever Bhushan, Bharat
Uitgever Fuchs, Harald

Mere med samme udgiver