Vertel uw vrienden over dit artikel:
Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
M Lanza
Onze klanten zeggen:
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst
Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
M Lanza
The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.
400 pages
| Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
| Vrijgegeven | 11 oktober 2017 |
| ISBN13 | 9783527340910 |
| Uitgevers | Wiley-VCH Verlag GmbH |
| Pagina's | 384 |
| Afmetingen | 251 × 176 × 25 mm · 978 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | Lanza, Mario |
Bekijk alles van M Lanza ( bijv. Hardcover Book )