Vertel uw vrienden over dit artikel:
Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
M Lanza
Conductive Atomic Force Microscopy: Applications in Nanomaterials
M Lanza
The first book to summarize the applications of CAFM as the most important method in the study of electronic properties of materials and devices at the nanoscale.
400 pages
Media | Boeken Hardcover Book (Boek met harde rug en kaft) |
Vrijgegeven | 11 oktober 2017 |
ISBN13 | 9783527340910 |
Uitgevers | Wiley-VCH Verlag GmbH |
Pagina's | 384 |
Afmetingen | 251 × 176 × 25 mm · 978 g |
Taal en grammatica | Engels |
Uitgever | Lanza, Mario |
Bekijk alles van M Lanza ( bijv. Hardcover Book )