Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing: Applying Bandwidth-Dependent DAC and DGS Curves - Wolf Kleinert - Boeken - Springer International Publishing AG - 9783319813790 - 27 mei 2018
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Wolf Kleinert
Defect Sizing Using Non-destructive Ultrasonic Testing: Applying Bandwidth-Dependent DAC and DGS Curves Softcover reprint of the original 1st ed. 2016 edition

Ontvang een e-mail zodra het artikel beschikbaar is
Heb je een profiel? Inloggen
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Wolf Kleinert

Onze klanten zeggen:

14 dagen retourrecht in overeenstemming met de Europese consumentenbeschermingswetgeving
Topnotering op Trustpilot
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

This book presents a precise approach for defect sizing using ultrasonics. The approach presented here is not only valid for conventional angle beam probes, but also for phased array angle beam probes. Its content is of interest to all those working with distance gain size (DGS) methods or are using distance amplitude correction (DAC) curves.

118 pages, 83 Illustrations, color; 7 Illustrations, black and white; XVIII, 118 p. 90 illus., 83 il

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 27 mei 2018
ISBN13 9783319813790
Uitgevers Springer International Publishing AG
Pagina's 118
Afmetingen 150 × 220 × 10 mm   ·   204 g

Meer van dezelfde uitgever

Bekijk alles van Wolf Kleinert