Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Boeken - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692117 - 20 april 2022
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Prijs
€ 106,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 18 - 26 jun.
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Ook verkrijgbaar als:

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.


164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 20 april 2022
ISBN13 9783030692117
Uitgevers Springer Nature Switzerland AG
Pagina's 164
Afmetingen 150 × 220 × 10 mm   ·   296 g
Taal en grammatica Duits  

Meer door Sebastian Huhn

Alles tonen

Mere med samme udgiver