Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Boeken - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692087 - 20 april 2021
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition


Ontvang een e-mail zodra het artikel beschikbaar is
Heb je een profiel? Inloggen
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Sebastian Huhn
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.


164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 20 april 2021
ISBN13 9783030692087
Uitgevers Springer Nature Switzerland AG
Pagina's 164
Afmetingen 150 × 220 × 20 mm   ·   439 g
Taal en grammatica Duits  

Meer door Sebastian Huhn

Alles tonen

Meer van dezelfde uitgever