Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques - Sebastian Huhn - Boeken - Springer Nature Switzerland AG - 9783030692087 - 20 april 2021
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Design for Testability, Debug and Reliability: Next Generation Measures Using Formal Techniques 2021 edition

Prijs
€ 106,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 6 - 14 aug.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Sebastian Huhn
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

This book introduces several novel approaches to pave the way for the next generation of integrated circuits, which can be successfully and reliably integrated, even in safety-critical applications.


164 pages, 75 Tables, color; 25 Illustrations, color; 22 Illustrations, black and white; XXI, 164 p.

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 20 april 2021
ISBN13 9783030692087
Uitgevers Springer Nature Switzerland AG
Pagina's 164
Afmetingen 150 × 220 × 20 mm   ·   439 g
Taal en grammatica Duits  

Meer door Sebastian Huhn

Alles tonen

Meer van dezelfde uitgever