Vertel uw vrienden over dit artikel:
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization Sheldon Tan 2019 edition
Long-Term Reliability of Nanometer VLSI Systems: Modeling, Analysis and Optimization
Sheldon Tan
460 pages, 195 Illustrations, color; 16 Illustrations, black and white; XLI, 460 p. 211 illus., 195
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 25 september 2020 |
| ISBN13 | 9783030261740 |
| Uitgevers | Springer Nature Switzerland AG |
| Pagina's | 460 |
| Afmetingen | 150 × 220 × 10 mm · 765 g |
| Taal en grammatica | Duits |
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld