Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences -  - Boeken - Springer Nature Switzerland AG - 9783030092986 - 4 januari 2019
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences Softcover Reprint of the Original 1st 2018 edition

Prijs
€ 210,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 22 - 30 okt.
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 4 januari 2019
ISBN13 9783030092986
Uitgevers Springer Nature Switzerland AG
Pagina's 521
Afmetingen 150 × 220 × 10 mm   ·   757 g
Taal en grammatica Duits  
Uitgever Glatzel, Thilo
Uitgever Sadewasser, Sascha

Meer van dezelfde uitgever