Vertel uw vrienden over dit artikel:
Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences Softcover Reprint of the Original 1st 2018 edition
Kelvin Probe Force Microscopy: From Single Charge Detection to Device Characterization - Springer Series in Surface Sciences
521 pages, 40 Tables, color; 194 Illustrations, color; 40 Illustrations, black and white; XXIV, 521
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 4 januari 2019 |
| ISBN13 | 9783030092986 |
| Uitgevers | Springer Nature Switzerland AG |
| Pagina's | 521 |
| Afmetingen | 150 × 220 × 10 mm · 757 g |
| Taal en grammatica | Duits |
| Uitgever | Glatzel, Thilo |
| Uitgever | Sadewasser, Sascha |