Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Boeken - Springer London Ltd - 9781849968201 - 22 oktober 2010
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes Softcover reprint of hardcover 1st ed. 2009 edition

Prijs
€ 144,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 21 - 29 jul.
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 22 oktober 2010
ISBN13 9781849968201
Uitgevers Springer London Ltd
Pagina's 298
Afmetingen 155 × 235 × 16 mm   ·   435 g
Taal en grammatica Engels  

Meer door Edmund G. Seebauer

Alles tonen

Mere med samme udgiver