Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes - Edmund G. Seebauer - Boeken - Springer London Ltd - 9781848820586 - 1 december 2008
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Charged Semiconductor Defects: Structure, Thermodynamics and Diffusion - Engineering Materials and Processes 2009 edition

Prijs
€ 169,49

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 26 aug. - 9 sep.
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Edmund G. Seebauer
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

Ook verkrijgbaar als:

"Charged Defects in Semiconductors" details the current state of knowledge regarding the properties of the ionized defects that can affect the behaviour of advanced transistors, photo-active devices, catalysts, and sensors.


298 pages, 30 black & white tables, biography

Media Boeken     Hardcover Book   (Boek met harde rug en kaft)
Vrijgegeven 1 december 2008
ISBN13 9781848820586
Uitgevers Springer London Ltd
Pagina's 298
Afmetingen 155 × 235 × 25 mm   ·   635 g
Taal en grammatica Engels  

Meer van dezelfde uitgever