Vertel uw vrienden over dit artikel:
Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B: Ugo Valdre Softcover reprint of the original 1st ed. 1988 edition
Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B:
Ugo Valdre
The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.
319 pages, 156 black & white illustrations, 3 colour illustrations
| Media | Boeken Paperback Book (Boek met zachte kaft en gelijmde rug) |
| Vrijgegeven | 25 november 2012 |
| Datum oorspronkelijke uitgave | 1989 |
| ISBN13 | 9781461595397 |
| Uitgevers | Springer-Verlag New York Inc. |
| Pagina's | 319 |
| Afmetingen | 170 × 244 × 17 mm · 530 g |
| Taal en grammatica | Engels |
| Uitgever | Valdre, Ugo |
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld