Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B: - Ugo Valdre - Boeken - Springer-Verlag New York Inc. - 9781461595397 - 25 november 2012
Indien omslag en titel niet overeenkomen, is de titel correct

Surface and Interface Characterization by Electron Optical Methods - Nato ASI Subseries B: Softcover reprint of the original 1st ed. 1988 edition

Prijs
€ 50,99

Besteld in een afgelegen magazijn

Verwachte levering 25 nov. - 3 dec.
Kerstcadeautjes kunnen tot en met 31 januari worden ingewisseld
Ontvang meldingen over nieuwe releases van Ugo Valdre
Voeg toe aan uw iMusic-verlanglijst

Nog niet beoordeeld

The importance of real space imaging and spatially-resolved spectroscopy in many of the most significant problems of surface and interface behaviour is almost self evident.


319 pages, 156 black & white illustrations, 3 colour illustrations

Media Boeken     Paperback Book   (Boek met zachte kaft en gelijmde rug)
Vrijgegeven 25 november 2012
Datum oorspronkelijke uitgave 1989
ISBN13 9781461595397
Uitgevers Springer-Verlag New York Inc.
Pagina's 319
Afmetingen 170 × 244 × 17 mm   ·   530 g
Taal en grammatica Engels  
Uitgever Valdre, Ugo

Meer van dezelfde uitgever